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BX-G104納米光伏專用激光橢偏儀針對光伏太陽能電池高-端研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的專用型多入射角激光橢偏儀。BX-G104用于測量絨面單晶硅或多晶硅太陽電池表面減反膜鍍層的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可測量光滑平面材料上的單層或多層納米薄膜的膜層厚度，以及在632.8nm下折射率n和消光系數(shù)k。
更新時間：2024-10-26
產(chǎn)品型號：BX-G104
瀏覽量：2198
BX-G103激光橢偏儀 多入射角測量儀是針對高-端研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的極-致型多入射角激光橢偏儀。 BX-G103系列可在單入射角度或多入射角度下對樣品進(jìn)行準(zhǔn)確測量。可用于測量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k；也可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k；亦可用于實時測量納米薄膜動態(tài)生長中膜層的厚度、折射率n和消光系數(shù)k。多入射角度設(shè)計實現(xiàn)了納米薄膜的絕對厚度測量。
更新時間：2024-10-26產(chǎn)品型號：BX-G103瀏覽量：1920
BX-G10紫外廣義光譜橢偏儀針對科研和工業(yè)環(huán)境推出的高精度快速攝譜型廣義光譜橢偏儀，波長范圍覆蓋紫外、可見到紅外。 廣義光譜橢偏儀采用寬帶超消色差補(bǔ)償器、利用步進(jìn)補(bǔ)償器掃描測量采樣模式、基于高靈敏度探測單元和光譜橢偏儀分析軟件，用于測量納米薄膜樣品、塊狀材料和各向異性材料。
更新時間：2024-10-26產(chǎn)品型號：BX-G102瀏覽量：1846
BX-G101高精度靈敏光譜橢偏儀針對科研和工業(yè)環(huán)境中薄膜測量推出的高精度快速攝譜型光譜橢偏儀，波長范圍覆蓋紫外、可見到紅外。 光譜橢偏儀基于高靈敏度光譜探測單元和光譜橢偏儀分析軟件，用于測量單層和多層納米薄膜的層構(gòu)參數(shù)（如，厚度）和物理參數(shù)（如，折射率n、消光系數(shù)k，或介電函數(shù)ε1和ε2），也可用于測量塊狀材料的光學(xué)性質(zhì)。
更新時間：2024-10-26產(chǎn)品型號：BX-G101瀏覽量：2426
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